攻擊無線充電(diàn)：導緻過熱、火(huǒ)災和數據盜竊風險(圖文)

 新技術如何将你的家化爲灰燼。

佛羅裏達大(dà)學學術研究人員(yuán)團隊與 CertiK 合作開(kāi)展的 新 工(gōng)作發現了與使用無線智能手機充電(diàn)器相關的許多安全風險。

研究人員(yuán)發現，一(yī)種名爲“VoltSchemer”的新攻擊方法可以利用無線充電(diàn)站發出的電(diàn)磁幹擾秘密地将語音命令輸入用戶的設備，并且不同尋常的是，通過使其過熱對其進行物(wù)理損壞。

作爲研究的一(yī)部分(fēn)，對全球市場上 9 種流行的無線充電(diàn)器型号進行了測試。結果顯示，這些産品存在重大(dà)安全漏洞，危及此類設備所有者的數字和物(wù)理安全。

 

經過測試的充電(diàn)站

基于電(diàn)磁感應原理，無線充電(diàn)系統利用交變磁場在兩個物(wù)體(tǐ)之間傳輸能量。VoltSchemer 攻擊通過影響充電(diàn)器輸入端的電(diàn)壓并産生(shēng)可以改變所生(shēng)成磁場特性的幹擾來操縱這一(yī)過程。

值得注意的是，所識别的攻擊方法不需要對充電(diàn)器進行物(wù)理修改或用惡意軟件感染智能手機，這使得此類攻擊特别危險。但成功運行需要連接中(zhōng)間設備，這會導緻充電(diàn)器發瘋。

 

具有 Type-C 輸出的惡意電(diàn)壓操縱器

我(wǒ)們上面已經提到過秘密向語音助手輸入命令。Android 和 iOS 設備都容易受到該漏洞的影響，這使得攻擊者可以從受害者的設備（可能是付費(fèi)号碼）撥打電(diàn)話(huà)、啓動應用程序以及以其他方式傷害目标。

所有這一(yī)切，盡管給數字安全帶來了一(yī)定的風險，但仍然無法與 VoltSchemer 的另一(yī)個最令人擔憂的功能相比——導緻充電(diàn)設備災難性過熱的能力。

有針對性的過熱是通過充電(diàn)站人爲制造幹擾來實現的（由于電(diàn)壓操縱器的相同影響），這會阻止智能手機完成充電(diàn)周期，因此即使在充電(diàn)時它也會繼續消耗電(diàn)流。已經 100% 充電(diàn)。此外(wài)，對輸入充電(diàn)電(diàn)流的操作顯着加快了這一(yī)過程。

研究還發現，VoltSchemer 可以繞過标準 Qi 安全機制，并将電(diàn)力傳輸給充電(diàn)站上的不兼容物(wù)品。這可能會損壞或毀壞各種物(wù)品，包括車(chē)鑰匙、USB 驅動器和 SSD 驅動器。因此，也許您不應該将不支持無線充電(diàn)的設備和小(xiǎo)工(gōng)具放(fàng)入其中(zhōng)，如果您的充電(diàn)站已經被黑客入侵怎麽辦？

 

接觸被黑充電(diàn)站後出現故障的第三方設備

根據研究人員(yuán)的測量，這樣一(yī)個受損的充電(diàn)站可以将智能手機加熱到 80°C 以上，而普通的金屬回形針甚至可以加熱到 280°C，這足以引起火(huǒ)災。如果附近有易燃材料，甚至會引發嚴重火(huǒ)災。在這裏，當您沒有公寓、文件和所有個人物(wù)品時，您将不再考慮任何數字安全。

研究結果肯定會給普通消費(fèi)者帶來很多疑慮。畢竟，如果無線充電(diàn)有很小(xiǎo)的可能性會導緻數據被盜、财産損失甚至火(huǒ)災，那麽會有人購買它嗎(ma)？

研究人員(yuán)已經聯系了受測充電(diàn)器的制造商(shāng)，并提出了消除已發現漏洞的建議。顯然，行業領導者在解決這些問題并開(kāi)發更安全、更抗電(diàn)磁幹擾的充電(diàn)技術方面還有很長的路要走。

 

 

轉載自安全客